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半导体器件失效分析中的若干问题&姚建心1

MOS器件的辐照效应及其加固&许康7

半导体器件早期接触失效机理及高温应力筛选&徐兴才12

脱键分析&唐俊华18

海缆用大功率晶体管的可靠性分析&杨家铿21

一种反电子流方向的铝膜电迁移失效模式&王占奎26

微带器件—铁氧体隔离器的失效机理与对策&陈文斗28

集成与非功率门表面铝产生的微缺陷&胡绪洲 秘能34

晶体管cb结反向脉冲耐量分析与预测&周绍文39

微等离子体发光与低击穿初探&汤崇瑜 黄杭生 张安康46

在钴60辐照下CMOS电路失效机理的定性分析&田云52

用探能级瞬态谱（DLTS）作器件失效机理分析的尝试&张安康 孙勤生 汤崇瑜57

塑封大功率三极管热疲劳失效分析&余致清 朱树德59

硅平面型功率器件管芯的失效分析&赵秀平63

几种常用失效分布下的失效机理&吴兴蕙刘维一66

功率晶体管大电流密度下hFE的温度特性&吴一清73

硅小功率塑封晶体管质量浅析&李正玲 章海良80

大功率晶体管芯片粘结失效分析&郑廷珪王晓华86

CMOS倒相器（4007）的高温运行试验&许康88

老化筛选功能初探&于龙潜91

EPROM的失效分析与筛选试验方法&须国宗95

信号灯泡的加速老炼及色灯信号机可靠性问题的探讨&孙正明101

航空陀螺电机的加速寿命试验与可靠性研究&北京航空仪表厂 北京航空学院余度研究组108

CRT加速寿命试验方法&吴福源114

老化筛选条件的研究&郑鹏洲 张斌119

确定电子设备最佳老炼时间的新方法&周延昆 卓礼章123

塑封IC（仿P-24电视机电路）的高压水汽试验结果及分析&韩卓人 齐春秋129

高频电容耦合法析测P—N结漏电流&曹泽谆 王为林132

电子设备的可靠性增长试验&姚书炼137

晶体管中子辐射筛选&梁伟修 周绍文143

用可代逻辑式计算网络系统的可靠度&陆培恩149

关于FTA的NP问题&梅启智 薛大知 张继荣156

一种新的步进应力加速寿命试验数理统计分析法&刘鸿雁161

多个威布尔分布形状参数的检验&费鹤良 徐锦龙167

步进应力加速寿命试验数据处理方法&王玲玲173

关于步进应力加速寿命试验的参数估计（指数分布）&茆诗松 张小琼179

系统MTBF的后样分布及小样本最优抽样试验&龙永锡 赵宗贵185

广义艾林模型及其在可靠性寿命试验中的应用&孙天蕙 李劲松192

非相干故障树分析法&廖炯生 郝效敏198

间断使用系统的可靠性分析及其在铁路信号系统中的应用&鲁秀 叶航203

铝电解电容器工作电解液最佳配方的选择——非直接计算的产品稳定性的三次设计&朱振214

用冠醚络合硅表面的碱金属杂质&胡绪洲221

半导体器件和集成电路粗检漏化学试剂分析&滕怀流226

实现r≠0的继电器寿命分布的初步讨论&袁先弟231

运用可靠性技术指导老产品改进&张礼文236

技术参数的稳定性分析&薄兰邵245

半导体器件的漏孔及其漏率的统计分布规律&刘明远 刘振茂252

电视机元器件现场失效率统计分析程序&王本安260

国产星载及弹载行波管的研制&任裕安 赵瑞清 李宝林265