图书介绍

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六西格玛质量管理与统计过程控制
  • 何晓群,付韶军编著 著
  • 出版社: 北京:清华大学出版社
  • ISBN:9787302436003
  • 出版时间:2016
  • 标注页数:211页
  • 文件大小:78MB
  • 文件页数:226页
  • 主题词:企业管理-质量管理

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图书目录

第1章 通向管理珠峰的阶梯1

1.1 实现六西格玛水准的六步法1

1.1.1 明确你是做什么的1

1.1.2 了解你的客户及其需求2

1.1.3 明确你的需求是什么3

1.1.4 制定你的工作流程4

1.1.5 优化你的工作流程4

1.1.6 不断提高追求卓越5

1.2 DMAIC模型7

1.2.1 什么是DMAIC模型7

1.2.2 D(define)——定义8

1.2.3 M(measure)——测量9

1.2.4 A(analyze)——分析11

1.2.5 I(improve)——改进13

1.2.6 C(eontro1)——控制14

第2章 统计思想掀起的管理变革16

2.1 追求多赢的探索之旅16

2.2 六西格玛管理的起源与背景18

2.3 六西格玛在当时的摩托罗拉19

2.4 六西格玛在通用电气20

2.5 六西格玛在世界级公司25

2.6 六西格玛在中国27

第3章 21世纪是质量的世纪30

3.1 质量管理的百年历程30

3.2 产品的可靠性达到99.99%为什么还不算好33

3.3 哥伦比亚号再次给人们发出质量警告34

3.4 质量与成本关系的探索36

3.5 六西格玛与全面质量管理(TQM)的比较39

3.6 六西格玛管理与ISO 9000认证的关系41

第4章 六西格玛管理的统计学原理44

4.1 重新认识统计学44

4.2 科学管理呼唤统计学46

4.3 变异与质量特性值的分布48

4.3.1 流程变异与正态分布48

4.3.2 用Excel绘制标准正态分布概率密度函数曲线操作步骤49

4.3.3 用Minitab软件进行数据正态性的评估52

4.4 六西格玛与正态分布54

4.5 6σ与3σ的比较59

第5章 六西格玛过程控制61

5.1 从过程开始61

5.2 六西格玛流程64

5.3 控制计划66

5.4 标准化操作67

5.5 缺陷与标准差68

第6章 把缺陷消灭在萌芽状态70

6.1 失败模式和影响分析70

6.2 危害性矩阵71

6.3 风险优先度72

6.4 防错法75

第7章 寻找质量问题的直观工具79

7.1 调查表79

7.2 直方图82

7.3 排列图84

7.4 因果图87

7.5 趋势图89

7.6 散布图90

7.7 圆形图91

7.8 星形图92

第8章 过程能力指数与西格玛水平94

8.1 质量波动94

8.2 过程能力95

8.3 过程能力指数96

8.4 西格玛水平Z98

8.5 过程性能指数Pp98

8.6 百万机会缺陷数DPMO99

8.7 抽取随机样本100

8.8 有关的计算100

第9章 SPC与控制图108

9.1 SPC的发展108

9.2 控制图的作用和特点109

9.3 预防原则的实施110

9.4 如何选择控制变量110

9.5 控制图原理与结构111

9.6 诊断准则112

9.7 过程受控与过程稳定114

9.8 用Minitab软件制作控制图115

9.9 预先控制图121

第10章 常规质量控制图124

10.1 常规控制图的特点124

10.2 均值-极差控制图124

10.3 均值-标准差控制图129

10.4 单值-移动极差控制图131

10.5 不合格品率控制图133

10.6 不合格品数控制图136

10.7 缺陷数控制图138

10.8 单位缺陷数控制图140

第11章 六西格玛质量控制图143

11.1 3.4ppm质量水平143

11.2 选用计量值控制图原则144

11.3 指数加权移动平均控制图144

11.4 小批量控制图146

11.5 累积和控制图149

11.6 结合自动检查使用控制图151

11.7 缺陷打分152

11.8 加严规格标准153

11.9 接近零缺陷的控制图154

第12章 六西格玛与测量系统分析156

12.1 测量系统简介156

12.1.1 什么是测量系统156

12.1.2 测量系统所具有的统计特性157

12.1.3 测量系统分析的意义157

12.1.4 测量系统的性能要求158

12.2 测量系统的分辨力159

12.2.1 量具与测量系统的分辨力159

12.2.2 测量系统分辨力的判断159

12.3 测量系统的准确度162

12.3.1 偏倚162

12.3.2 线性度162

12.3.3 稳定性164

12.3.4 测量系统的校准与修正170

12.4 测量系统的精密度171

12.4.1 重复性171

12.4.2 再现性172

12.4.3 GR&R分析173

12.5 测量的不确定度177

12.5.1 什么是测量的不确定度178

12.5.2 标准不确定度与扩展不确定度178

第13章 流程波动与西格玛水平180

13.1 过程的变异性180

13.1.1 过程具有变异性180

13.1.2 流程180

13.1.3 规格181

13.1.4 变异182

13.2 测量变异的统计指标183

13.2.1 集中趋势的测度183

13.2.2 离散状况的测度184

13.2.3 统计指标的Minitab实现186

13.3 过程偏倚分析187

13.3.1 过程变异模式187

13.3.2 过程短期能力与长期能力189

13.3.3 过程偏倚191

13.4 Zbench的计算192

13.4.1 利用正态分布表计算Zbench193

13.4.2 利用Minitab软件计算Zbench194

13.5 基准分析195

第14章 流程缺陷与西格玛水平199

14.1 缺陷与缺陷机会的判断199

14.1.1 缺陷199

14.1.2 缺陷机会判断200

14.2 DPU、DPO、DPMO与西格玛水平200

14.2.1 DPU200

14.2.2 DPO201

14.2.3 DPMO201

14.2.4 DPMO与西格玛水平202

14.2.5 西格玛水平的测算总结204

14.3 流程产出率205

14.3.1 流程产出率205

14.3.2 流程产出率与西格玛水平207

参考文献209

索引210

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