图书介绍

专用集成电路设计实践2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

来新泉主编著
出版社：西安：西安电子科技大学出版社
ISBN：9787560621319
出版时间：2008
标注页数：271页
文件大小：58MB
文件页数：280页
主题词：集成电路－电路设计－高等学校－教材

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图书目录

第1章绪论1

1.1集成电路的发展历史1

1.1.1重大的技术突破1

1.1.2集成电路的分类3

1.1.3集成电路的发展历史3

1.1.4集成电路展望4

1.1.5发展重点和关键技术5

1.2专用集成电路的发展历史8

1.2.1专用集成电路的概念及发展概况8

1.2.2专用集成电路的分类9

1.2.3专用集成电路的优点10

1.3实践的重要性11

1.4本书的特点12

第2章集成电路工艺基础13

2.1引言13

2.1.1IC制造基本原理13

2.1.2工艺类型简介13

2.2集成电路制造工艺概述14

2.2.1氧化工艺14

2.2.2掺杂工艺16

2.2.3光刻工艺19

2.2.4外延工艺21

2.2.5金属化工艺23

2.2.6制版工艺26

2.3双极集成电路的基本制造工艺27

2.3.1典型的双极集成电路工艺27

2.3.2双极集成电路中元件的形成过程和元件结构28

2.4CMOS集成电路的基本制造工艺31

2.4.1MOS集成电路的基本制造工艺31

2.4.2CMOS集成电路工艺33

2.5BiCMOS集成电路的基本制造工艺37

2.5.1以CMOS工艺为基础的BiCMOS工艺37

2.5.2以双极工艺为基础的BiCMOS工艺38

2.6BCD集成电路的基本制造工艺40

2.6.1BCD工艺的关键技术简介40

2.6.2BCD工艺的发展趋势42

2.7锗硅器件及其外延工艺简介43

第3章电路设计45

3.1触发器的设计45

3.1.1触发器的原理45

3.1.2触发器的指标46

3.1.3常见触发器的结构48

实践一触发器设计实例54

3.2比较器设计56

3.2.1比较器的原理57

3.2.2比较器的指标58

3.2.3常见比较器的结构60

实践二比较器的电路设计64

3.3运算放大器设计66

3.3.1运算放大器的基本原理67

3.3.2运算放大器的性能指标及重要参数69

3.3.3常见运算放大器的结构70

实践三运算放大器电路设计79

3.4带隙基准设计82

3.4.1带隙基准的原理82

3.4.2带隙基准的指标87

3.4.3常见带隙基准的结构88

实践四带隙基准电路设计92

3.5振荡器设计95

3.5.1振荡器的原理95

3.5.2振荡器的指标98

3.5.3常见振荡器的结构99

实践五振荡器电路设计103

3.6LDO稳压器设计105

3.6.1LDO稳压器的原理105

3.6.2LDO稳压器的指标107

3.6.3常见LDO稳压器的结构112

实践六 LDO稳压器电路设计116

3.7D/A转换器的设计118

3.7.1D/A转换器的原理118

3.7.2D/A转换器的指标120

3.7.3常见D/A转换器的结构123

实践七 D/A转换器的电路设计128

3.8A/D转换器的设计131

3.8.1A/D转换器的原理131

3.8.2A/D转换器的指标132

3.8.3常见A/D转换器的结构136

实践八 A/D转换器的电路设计139

第4章 EDA软件的使用143

4.1Cadence的使用143

4.1.1启动Cadence143

4.1.2绘制电路图145

4.1.3电路图仿真148

4.2Hspice的使用151

4.2.1Hspice的使用流程151

4.2.2Hspice的常用分析类型153

4.2.3常用输出格式159

4.2.4常用信号源160

4.2.5电路的优化161

4.2.6不收敛问题162

4.3Eproduct的使用说明164

4.3.1ProjectManager的使用164

4.3.2ViewDraw的使用166

4.4IC设计工具TannerPro169

第5章版图设计173

5.1版图设计软件使用简介173

5.1.1L-Edit版图设计软件173

5.1.2Virtuoso版图设计软件179

5.2版图设计190

5.2.1数字电路的版图设计192

5.2.2模拟电路的版图设计201

5.3版图验证205

5.3.1版图设计规则检查（DRC）206

5.3.2版图电气规则检查（ERC）211

5.3.3电路网表匹配检查（LVS）212

5.4版图寄生参数的提取与后仿真215

5.4.1版图寄生参数的提取215

5.4.2版图后仿真225

第6章 ASIC测试技术概述228

6.1常用测试设备及仪器简介228

6.1.1探针台228

6.1.2示波器23

6.1.3数字万用表235

6.1.4信号发生器239

6.1.5电子负载242

6.2芯片测试方法简介246

6.2.1测试方法的介绍246

6.2.2指标测试250

6.2.3测试注意事项253

6.2.4测试的分类、硬件及“开尔文”连接法254

6.3芯片Debug方法简介259

6.3.1高性能聚焦离子束系统在芯片Debug的应用259

6.3.2漏电流的测试262

6.3.3CAP265

参考文献269