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GB/T4930—2008 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则1

GB/T15074—2008 电子探针定量分析方法通则19

GB/T15244—2002 玻璃的电子探针定量分析方法29

GB/T15245—2002 稀土氧化物的电子探针定量分析方法35

GB/T15246—2002 硫化物矿物的电子探针定量分析方法45

GB/T15247—2008 微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法53

GB/T15616—2008 金属及合金的电子探针定量分析方法65

GB/T15617—2002 硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法71

GB/T16594—2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则79

GB/T17359—1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则96

GB/T17360—2008 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法105

GB/T17361—1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及x射线能谱鉴定方法112

GB/T17362—2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法125

GB/T17363.1—2009 黄金制品金含量无损测定方法 第1部分：电子探针微分析法133

GB/T17363.2—2009 黄金制品金含量无损测定方法 第2部分：综合测定方法141

GB/T17365—1998 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法152

GB/T17366—1998 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法155

GB/T17506—2008 船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法161

GB/T17507—2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件168

GB/T17722—1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法175

GB/T18295—2001 油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法180

GB/T18735—2002 分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范193

GB/T18873—2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则199

GB/T18907—2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法207

GB/T19499—2004 表面化学分析 数据传输格式221

GB/T19500—2004 X射线光电子能谱分析方法通则271

GB/T19501—2004 电子背散射衍射分析方法通则281

GB/T19502—2004 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则288

GB/T20175—2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法298

GB/T20176—2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度315

GB/T20307—2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则335

GB/T20724—2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法351

GB/T20725—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则357

GB/T20726—2006 半导体探测器X射线能谱仪通则368

GB/T21006—2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性378

GB/T21007—2007 表面化学分析 信息格式391

GB/T21636—2008 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语410

GB/T21637—2008 冠状病毒透射电子显微镜形态学鉴定方法448

GB/T21638—2008 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则461

GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇470

GB/T22462—2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法527

GB/T22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准541

GB/T22572—2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法566