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第一节 自然光和偏光1

第二节 折射和双折射1

第一章 晶体光学基础理论1

一、折射2

二、双折射2

第三节 光率体3

一、光率体的概念3

二、各类晶体的光率体3

一、一轴晶光率体在晶体中的位置8

二、二轴晶光率体在晶体中的位置8

第四节 光率体在晶体中的方位——光性方位8

第二章 偏光显微镜分析方法10

第一节 偏光显微镜10

一、偏光显微镜的构造10

二、薄片制备方法简介11

第二节 偏光显微镜下材料的基本观察和分析11

一、单偏光下的观察和分析11

二、正交偏光下的观察和分析15

三、聚敛偏光下观察和分析24

第三节 偏光显微镜的应用实例29

一、垂直照明器的构成32

第一节 反光显微镜的构造及类型32

第三章 反光显微镜分析方法32

二、反光显微镜的光路及照明方式34

三、金相显微镜的构造及操作34

第二节 反光显微镜下材料的基本观察和分析36

一、材料显微结构的分析36

二、反射光下材料光学性质的研究36

第三节 反光显微镜下观察试样的制备40

一、光片的制备40

二、光片的腐蚀43

第四节 反光显微镜的应用实例47

一、光学显微镜分辨本领的限制49

第四章 电子光学基础49

第一节 电子显微镜为什么能出现49

二、电子波的性质及其波长51

第二节 电磁透镜的光学性质52

一、电场和磁场对电子的作用52

二、静电透镜和磁透镜54

三、电磁透镜的像差及分辨本领55

第五章 透射电子显微分析法59

第一节 透射电镜的结构59

一、透射电镜与光学显微镜的比较59

三、成像系统61

四、观察和记录系统61

二、照明系统61

五、附件62

第二节 透射电镜的样品制备63

一、粉末法63

二、化学减薄法63

三、双喷电解减薄法64

四、离子减薄法65

五、复型法65

六、超薄切片法67

第三节 透射电子显微像67

一、质厚衬度像68

二、衍射衬度像71

三、相位衬度像74

第四节 选区电子衍射分析77

一、电子衍射的基本概念77

二、多晶的电子衍射谱77

三、单晶的电子衍射谱78

四、透射电镜的电子衍射方法78

五、电子衍射谱的标定简介80

六、电子衍射的物相分析特点81

第一节 概述82

一、电子束与固体样品的相互作用82

第六章 扫描电子显微学82

二、固体样品受入射电子激发产生的各种物理信号83

第二节 扫描电子显微学86

一、扫描电子显微镜的结构86

二、扫描电子显微镜的成像原理92

三、扫描电子显微镜的主要性能和特点93

四、扫描电镜的像衬度97

五、背散射电子衍射分析及其应用99

第七章 电子显微分析在无机非金属材料科学中的应用104

第一节 粉末颗粒分析104

第二节 在陶瓷方面的应用106

第三节 晶界及相界分析107

第四节 在水泥和混凝土方面的应用108

第八章 扫描隧道显微镜与原子力显微镜111

第一节 扫描隧道显微镜111

一、扫描隧道显微镜（STM）的分辨率及其与其他分析仪器分辨率的比较111

二、扫描隧道显微镜简介111

第二节 原子力显微镜（AFM）113

实验一 偏光显微镜的调节及观察116

实验二 锥光偏光下的观察118

实验三 反光显微镜的调节及观察119

实验四（一） 水泥熟料的光片制备121

实验四（二） 陶瓷光片的制备122

参考文献124