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目录1

第一部分　用现有仪器构成自动测试系统1

第1章 自动测试系统概述1

1.1 自动测试系统的组成1

1.2 自动测试系统的分类2

1.3　现代自动测试系统的特点3

习题3

第2章　通用接口总线概述4

2.1　概述4

2.2　接口基本性能及仪器功能6

2.3　总线结构9

2.4　接口基本特性12

习题14

第3章　通用接口总线协议编码15

3.1　信息分类15

3.2　接口信息及编码15

3.3　设备信息及编码23

习题24

第4章　接口功能25

4.1　清除功能（DC）25

4.2　设备触发功能（DT）26

4.3　听功能（L）27

4.4　讲功能（T）29

4.5　源功能（SH）31

4.6　受功能（AH）32

4.7　服务请求功能（SR）33

4.8　远程／本地功能（RL）34

4.9　控者功能（C）35

习题40

第5章　USB及虚拟仪器41

5.1　USB总线协议简介41

5.2　基本结构简介43

5.3 USB协议总览45

5.4 连接特性48

5.5 VXI概念54

习题57

第6章 CAT概述及TM7简介58

6.1 CAT概述58

第二部分 模拟集成电路测试系统58

6.2　TM7简介59

习题62

第7章　测试语言简介63

7.1　BASIC语法定义63

7.2　TBASIC命令66

7.3　TBASIC的语句66

7.4　测试用的新增函数72

7.5　其他语句组73

7.6　数字测试扩展语句74

7.7　如何使用TBASIC775

7.8　测试语言的深层次讨论76

习题77

8.1　TM7的硬件系统结构78

第8章　TM7的硬件78

8.2　硬件的层次结构（三层结构）81

8.3　TM7的接口控制电路的几个问题81

8.4　TM7的数字电路82

8.5　模拟电路84

8.5.1　程控源84

8.5.2　PMU可程控测量单元（精密测量单元）85

8.5.3　测量放大器及数字电压表88

习题89

第9章　基本种类IC的测试90

9.1　运算放大器的测试90

9.1.1　实际的运算放大器90

9.1.2　运算放大器组件的基本参数和测试方法91

9.1.3　运算放大器类适配器的设计95

9.1.4　运算放大器类的测试程序96

9.2　集成三端稳压器的测试97

9.2.1　集成三端稳压器的基本参数的意义及其测试方法97

9.2.2　适配器的设计98

9.2.3　脉冲式电压源及电流负载的电路实现举例99

9.3 DAC的测试101

9.3.1　DAC的测试项目及定义101

9.3.2　使用数字电压表法测试DAC102

9.3.3　满度建立时间的测量105

9.3.4　测DAC时对DVM的要求105

9.4　ADC的测试及适配器的工作原理106

9.4.1　TM7可测试A/D组件的基本参数106

9.4.2　TM7 A/D适配器的工作原理107

9.4.3　A/D适配器的特点112

9.4.4　测试程序113

9.4.5　调试A/D转换器测试程序时的注意事项116

习题116

第10章　测试仪系统软件的开发及仪器自检和校准117

10.1　系统软件的结构117

10.1.1　开发方案117

10.1.2　软件设计说明117

10.1.3　软件测试120

10.2　自检原理及算法121

10.2.1　容错主要采用的技术及发展趋势121

10.2.3 自检的方法122

10.2.2　自检的技术指标122

10.2.4 自检算法125

10.3　校准128

10.4　TM7的校准和模拟量自检方法129

10.4.1　TM7的校准方法举例129

10.4.2　TM7的模拟量自检方法举例131

习题131

附录A　TBASIC命令表132

附录B　函数表133

附录C　测试语句表133

附录D　TBASIC错误信息表136

英文缩略词英汉对照表137

参考文献140