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目 录1

第一篇 弱电技术的接触问题1

第1章 基础1

1.1 电接触特性的科学基础（H．霍夫特）1

1.1.1概述1

1.1.2接触电阻1

1.3.6结语6

1.5.2接触电阻的统计分布与接触压力和时间的关系7

1.1.3表面膜的过热温度9

2.4.1 概述12

1.1.4容许电负荷13

1.1.5接触粘附16

1.1.6电磨损17

1.1.7无腐蚀条件下的寿命23

1.1.8接触材料上的表面膜23

1.1.9可靠性和材料31

1.5.3接触电阻与其离散性之间的关系33

1.2关于RCL电路中燃弧时间及转换能量的确定（H．J．托尔）34

1.2.1 概述和问题的提出34

1.2.2燃弧时间的计算37

1.2.3电流时间曲线38

1.2.4电流时间曲线的测量43

1.2.5结语44

1.3.1 概述49

1.3静止接触的噪声（K．坦内贝尔格）49

1.3.2噪声与电阻的关系50

1.3.3接触噪声与频率的关系57

1.3.4测量位置57

1.3.5测量59

1.4弱电流技术的接触的不稳定性试验（A．克劳斯）64

1.5接触电阻的统计分析（J．乌尔比希）74

1.5.1 概述74

1.5.4由接触电阻的平均值求故障概率86

2.1.1触头材料经济性和适用性的选择89

第2章 触头材料和工艺问题89

2.1 通信技术的新型触头材料的试验（H.亨塞尔U.迪姆H．尤雷）89

2.1.2在ATZ65号自动电话局中的运行试验90

2.1.3在试验室进行的寿命试验90

2.1.4在有害物质影响下触头性能的试验95

2.1.5触头测试仪96

2.1.6结语97

2.2关于发展银钯基触头材料的金属学问题（D．吕利克）98

2.2.1 概述98

2.2.2材料性能99

2.2.3触头性能109

2.2.4讨论和结论114

2.3触头材料AuAg17Ni的应用研究（G．贝尔W．德恩克）117

2.3.1试验参数118

2.3.2开关触头的试验结果120

2.3.3开关装置的试验结果123

2.3.4对试验结果的评价124

2.4弱电流微型触头的制造和试验（B．克劳米勒）126

6.1.3阻挡层场效应晶体管（SFET）127

2.4.2把A3和A8Pd30微型触头焊到德银扁簧上的工艺试验127

2.4.3在MKS试验样品上进行电测量的结果132

2.4.4研究工作成果的经济效益137

2.4.5结语137

3.1 关于低温下镀层触头扩散的可能性（A．黑斯内尔）143

3.11 概述143

3.1.2由于体积扩散引起的材料传送143

第3章 镀层问题及使用条件143

3.1.3薄镀层中扩散短路和扩散的特点144

3.1.4镀层系统的扩散模型148

3.1.5结语157

3.2 在低温下Au-Ag系统的扩散（A．黑斯内尔H．斯坦格G．米勒W．布雷特施奈德）160

3.3硅对弱电流接触的影响（H．马丁）163

3.3.1 概述163

3.3.2硅油的化学结构及对开关触头的影响机理163

3.3.3试验的实施165

3.3.4 试验结果167

3.3.5对试验结果的总结174

3.4.1 概述178

3.4德意志邮电局通信设备运行室内的有害物浓度（E．凯塞尔）178

3.4.2试验结果179

3.4.3对运行室的气候要求183

3.4.4对试验的气候要求184

第4章 接触特性及可靠性185

4.1 镀层的贵金属静触头发生故障的原因（H．霍夫特）185

4.1.1 概述185

4.1.2贵金属镀层对接触电阻的影响185

4.1.3实用的贵金属镀层及其作用188

4.1.4镀层触头上的表面膜问题193

4.2在外来粒子影响下接触元件的稳定性（O．W．科米茨基Ju．Sch．比格洛夫G．M．科尔松斯基）197

4.2.1 概述197

4.2.2结语200

4.2.5确定粒子从给定表面区段到达故障范围的概率的试验步骤202

4.2.3求K．的试验步骤202

4.2.4在外来粒子掉入故障范围内时，求故障概率的试验步骤202

4.3在大的电感性负载下微型电键寿命试验（M．克劳斯H．J．托尔D．兰格R．蒂莱R．里希特尔）203

4.3.1 概述203

4.3.2试验回路及提出的任务203

4.3.3测量方法205

4.3.4试验结果及其讨论206

4.3.5结语210

4.4 CR灭弧电路对电感性负载的保护管接点寿命的影响（A．皮特科夫斯基T．达布罗夫斯卡W．弗兰茹克）212

4.4.1概述212

4.4.2试验大纲213

4.4.3试验结果215

4.4.4对试验结果的分析217

4.4.5结语217

4.5液态氮介质中的保护管接点的一些特性（B．米德青斯基T．卓尔里尔茹克）218

4.5.1 概述218

4.5.2舌簧继电器的耐压强度219

4.5.3开断能力和寿命220

4.5.4结语227

4.6高频接点的接触电阻（R．里希特尔）228

4.6.1触头的几何形状228

4.6.2高频接触模型231

4.6.3高频接触电阻的测量方法232

4.6.4在老化的高频接插元件上测量反射系数234

4.6.5用同轴谐振器测量衰减236

5.1.2动触头的主要参数241

第5章 测量技术241

5.1 弱电流技术的接触研究中数字测量台的使用可能性和范围（H．J．托尔D．兰格H．霍夫特）241

5.1.1概述241

5.1.3决定寿命的现象243

5.1.4接触回路电阻的测量244

5.1.5接触回路电阻的求值248

5.1.6对开断和关合过程中的触头进行测量251

5.1.7在开断的触头上测量255

5.1.8结语256

5.2弱电流接触的寿命和可靠性的自动测量台（H．托尔D．兰格K．舍费M．克劳斯）258

5.2.1 概述258

5.2.2 用恒定电流测量接触回路电阻258

5.2.4接触回路电阻的自动测量台261

5.2.3测量台的预计使用目的261

5.2.5子程序选择267

5.3接触电阻的自动测量台和计值（F．米勒M．维德曼K．阿斯穆斯）275

5.3.1 概述275

5.3.2 自动测量装置的描述276

5.3.3测量序列的计值276

5.3.4结语289

5.4对操作中的触头统计的时间测量方法（D．兰格K．D．齐克曼特尔）290

5.4.1测量技术问题的提出290

5.4.2确定随机矩形脉冲序列参数的测量方法292

5.4.3运行试验和测量结果299

5.5接插元件自动试验设备的分析和控制装置（W．贝尔哈特C．克里斯克H．J．珀茨施H．罗斯内尔G．福格特H．韦德尔F．魏里希）304

5.5.1 概述304

5.5.2结构和工作原理305

5.5.3插拔装置306

5.5.4测量台308

5.5.5结语311

5.6测量接触元件的接触回路电阻时热过程的应用（J．卡奇马雷克H．J．维尔茨巴）313

第6章 电子开关原理320

6.1 以半导体元件为基础的开关原理（G．埃贝斯特R．布鲁姆梅）320

6.1.1概述320

6.1.2双极型晶体管321

6.1.4.MIS晶体管（MISFET）329

6.1.5晶闸管332

6.1.6集成电路337

6.1.7结语339

6.2.1 概述341

6.2玻璃半导体的工艺和特性（H．J．维尔茨巴P．弗罗钦斯基）341

6.2.2控制玻璃中可转换结构变化的可能性343

6.2.3非晶态的半导体材料350

6.3 单稳态硫族化合物玻璃阈值开关的稳定性试验（C．迪普曼）352

6.3.1 概述352

6.3.2模型研究353

6.3.3稳定性问题355

6.3.4试验结果356

6.3.5使用比较358

6.4 电子电路中可拆卸的光电子耦合器（G．福格特H．韦德尔）361

6.4.1光电子耦合原理361

6.4.2作四端网路用的光电子耦合器363

6.4.3运行条件的分析366

6.4.4误差的影响370

6.4.5结语373

6.5几何形状和环境对可拆卸的光电子耦合器的影响（F．施瓦茨K．吉赛莱G．福格特H．韦德尔）375

6.5.1各种影响因素376

6.5.2几何参数的影响376

6.5.3环境参数的影响383

6.5.4结语391

6.6可拆卸的光电子耦合器的动态特性（U．埃米希G．福格特H．韦德尔）392

6.6.1试验对象的限定392

6.6.2传输特性曲线——传输系数393

6.6.3非线性失真的测定397

6.6.4噪声特性398

6.6.5不同因素对上限频率的影响405

6.6.6上升时间407

第二篇 强电流技术的接触问题411

第1章 线接触温度的几种计算方法（J．莫尔纳）411

1.1 概述411

1.2线接触的温升微分方程411

1.3用热流网确定温度413

1.4计算结果与测量结果的比较415

1.5附录417

第2章 强电流接触闭合状态下的接触电压（E．瓦尔丘克）420

2.1概述420

2.2试验方法420

2.3 电接触的伏安特性曲线421

2.4软化电压和熔化电压423

2.5接触电压的统计427

第3章充氮的灭弧室中双断口触头系统的弧隙介质恢复强度（K．莫舍科夫D．切尔内法）429

3.1 概述429

3.2试验装置和研究条件429

3.3试验结果430

3.4对试验结果的讨论430

第4章 直流接触器中Ag-CdO触头与Ag-Ni触头的特性曲线比较（I．查拉科夫 1．卡萨科夫A．克拉斯特夫P．布罗法）434

4.1概述434

4.2试验条件435

4.3试验结果435

4.4对试验结果的讨论437

第5章 额定1 00A、500V的断路器中AgC、AgNi和AgW触头材料的应用（K．莫舍科夫L．佩切夫G．克里斯托夫M．卡萨科夫）439

5.1 概述439

5.2试验方法及试验条件439

5.3试验结果441

5.4对试验结果的分析444

第6章 烧结金属材料的强电流触头在液氮中的特性（B．米勒 H．韦塞尔）447

6.1理论观点447

6.2试验装置448

6.3测量结果449

6.4结语457

第7章 铜触头在氮气中持续运行时的情况（K．莫舍科夫T．伊万切夫）459

7.1 概述459

7.2试验条件和试验方法459

7.3试验结果460

7.4对试验结果的讨论463

第8章 低电压混合式开关的使用范围（M．明切夫Z1．克马洛法I．卡萨科夫A．克拉斯特夫I．查拉科夫）465

第9章 混合式接触器触头的寿命（Z1．克马洛法I．查拉科夫M．明切夫）471