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第一章 智能仪器设计的基本问题1

1.1 智能仪器1

1.2智能仪器设计的计划1

目录1

1·3早期硬件设计5

1.4早期软件设计8

1·5后期设计12

1·6设计中的若干问题16

2·1 概述18

2·1·1输入输出控制与连接方式18

第二章 输入输出18

2·1·2输入输出定时21

2·1·3先入先出缓冲器（FIFO）23

2·2 发光二极管显示器25

2·2·1 7段数字显示器26

2·2·2显示电路及编程实例29

2·2·3点阵字符号显示器34

23 CRT显示器35

2·3·1字符发生器36

2·3·2 CRT显示控制逻辑38

2·3·3 CRTC编程实例41

2·4 打印输出43

2·4·1接口硬件45

2·4·2打印机控制程序46

2·5 键盘52

2·5·1键盘硬件53

2·5·2键盘扫描和译码54

2·5·3键盘分析程序设计57

2·6 自检与告警显示68

2·6·1硬件自检69

2·6·2自检算法72

第三章 D/A、A/D转换器与微处理器的接口及其编程75

3·1 D/A转换器75

3·1·1 D/A转换器的输出76

3·1·2数据显示83

3·1·3 10位D/A转换器与up的接口88

3·1·4 10位D/A转换器接口的实验93

3·1·5集成电路D/A转换器及其接口96

3·2 A/D转换器104

3·2·1线性斜波转换器104

3·2·2逐次逼近转换器107

3·2·3 A/D转换器与微计算机的接口110

3·2·4集成电路A/D转换器及其接口114

3·3 双斜A/D转换器及数字面板表118

3·3·1双斜A/D转换器118

3·3·2数字面板表120

3·3·3数字面板表的接口121

3·3·4数字面板的软件129

3·4 数据采集136

3 · 4·1数据采集所使用的A/D转换器136

3·4·2数据采集的定时138

3·4·3数据的使用147

3·4·4数据采集模块155

第四章 测量算法161

4·1 测量算法161

（1）关于算法的基本概念161

（2）主序算法和内务算法163

（3）测量中的定时算法165

4·2 2进制整数的算术运算167

4·2·1 2进制无符号与有符号整数167

4·2·2整数的加法运算170

4·2·3整数的减法运算172

4·2·4整数的乘法运算177

4·2·5整数的除法运算187

4·3 2进制定点数的算术运算195

4·3·1 2进制数的定点表示法195

4·3·2定点数的加法与减法运算196

4·3·3 定点数的乘法运算198

4·3·4 定点数的除法运算200

4·3·5 几种函数的定点运算204

4·4 2进制浮点数的算术运算212

4·4·1 2进制数的浮点表示法212

4·4·2浮点数的乘法运算216

4·4·3浮点数的除法运算217

4·4·4浮点数的加法与减法运算221

4·5·1 2进制表示的10进制数226

4·5·2 10进制数转换为2进制数227

4·5 2-10进制数的转换与运算236

4·5·3 2进制数转换为10进制数237

4·5·4 2-10进制数的算术运算248

4·6·1无序清单的检索251

4·6 清单与表格251

4·6·2无序清单的排序254

4·6·3有序清单的检索257

4·6·4表格及其检索258

4·7 精确度的提高262

（1）随机误差的处理262

（2）利用误差模型修正系统误差265

（4） 通过曲线拟合求得校准方程273

（5）温度补偿晶振举例275

（6） 内插所致的误差282

（1） 四相三斜型积分式A/D变换285

4·8 仪器硬件性能的提高285

（2）多斜Ⅰ型A/D变换287

（3） 多斜Ⅱ型A/D变换289

（4） 余数再循环式A/D变换器291

（5） 提高测时分辨力的双游标法293

（6）频率计数器中的自动变频法294

第五章 通用接口设计298

引言298

5·1 GPIB接口要略298

5·1·1母线结构298

5·1·2功能上的规定300

5·1·3消息编码及传递304

5·2 GP IB的LSI接口片简介309

5·2· 1 8291GPIB讲／听接口片309

5·2·2 8292GPIB控接口片311

5·2·3 8293GPIB收发器311

5·2·4 8291/92/93接口片组313

5·3 应用举例313

5·3·18292的命令314

5·3·2软件概要—命令320

5·3·3应用软件328

5·3·4 中断和DMA考虑331

5·4 GPIB软件接口331

5·4·1硬件说明332

5·4·2简化状态图332

5·4·3软接口功能子程序（系统命令）333

5·4·4应用软件335

第六章 软件设计337

6·1 结构化设计337

6·2 由顶向下设计340

6·3 模块化编程341

6·4 结构化编码344

6·5 非结构化程序变换为结构化347

6·6 伪编码350

6·7 文件的编制与文体351

9·8 结构化分析354

6·9 结构化设计举例359

6·10 编码361

6·11 操作系统364

（2）逻辑分析仪369

（1）逻辑探头369

（3） 字认别器369

（4）显示格式编排器369

7·1 微处理器测试设备369

第七章 开发和调试设备的利用369

7·2 微处理器开发设备370

（3）利用校准曲线用查表法修正370

（5）数字锁存器370

7·3 逻辑分析仪371

（1）数据采集371

（2）缓冲存贮372

（3）冻结存贮的触发372

（4）定时关系显示373

（5） 复位374

7·4 逻辑分析仪能力的增强374

（1）点图映射显示374

（2）状态表显示375

（3）参考状态表376

（4）自对数据比对377

（5）缓冲存贮的有效扩展377

（6） 对GPIB的监察378

7·5 A型开发系统379

（1） 与外围设备交换信息380

（2）与外部计算机交换程序380

（3）执行样机程序380

（4）修改程序380

（5） 编制、存贮、执行测试短程序380

（6）电路内部分仿真380

7·6 调试仪381

（9）符号化调试381

（8）反汇编381

（7）电路内总体仿真381

（1）调试仪的结构特点382

（2）调试仪的电气特点383

（3）缓冲存贮内容的显示384

7·7 B型开发系统385

（1） B型MDE的结构385

（2）B型MDE上的软件开发385

（3） B型和A型MDE的混合使用386

7·8 仿真386

（1）仿真时的调试387

7·9 正式的调试387

（2）电路内部分仿真388

（3）电路内总体仿真389

（4）异步调试389

（5）定时循环的检验390

（6）中断的检验390

7·10 多重微处理器系统的调试390

附 录392

附录 A392

B445

C445

D459

E472