图书介绍

基于FPGA & CPLD的数字IC设计方法2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

（美）鲍勃·泽德曼（Bob Zeidman）著；赵宏图译著
出版社：北京：北京航空航天大学出版社
ISBN：7810774514
出版时间：2004
标注页数：200页
文件大小：42MB
文件页数：218页
主题词：可编程序逻辑器件－基本知识；数字集成电路－电路设计

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图书目录

第3章现场可编程门阵列（FPGA）31

本章目标31

3.1 FPGA体系结构31

3.2可配置逻辑模块32

3.3可配置I/O模块35

3.4嵌入式器件38

3.5可编程互连39

3.6时钟电路41

3.7 SRAM编程与反熔丝编程的对比41

3.8仿真和ASIC原型44

3.9小结47

练习48

第4章可编程器件的通用设计方法论（UDM-PD）51

本章目标51

4.1 什么是UDM和UDM-PD？52

4.2写出一份设计规范54

4.3设计规范的评估59

4.4选择器件和工具59

4.5设计60

4.6检验61

4.10小结64

4.9产品运输64

4.7最终评估64

4.8系统集成与测试64

练习65

第5章设计技术、规则和指导方针68

本章目标68

5.1硬件描述语言69

5.2自上而下的设计方法81

5.3同步设计85

5.5总线争抢102

5.4悬浮节点102

5.6每个状态一个触发器编码104

5.7设计测试（DFT）106

5.8测试备用逻辑107

5.9初始化状态机109

5.10可观测的节点109

5.11扫描技术110

5.12 芯片内装自测试（BIST）112

5.13特征分析114

5.14小结114

练习116

本章目标122

第6章检验122

6.1什么是检验？123

6.2仿真123

6.3静态定时分析127

6.4声明语言127

6.5整体检验128

6.6 小结128

练习129

7.1仿真软件132

第7章电子设计自动化工具132

本章目标132

7.2测试平台发生器140

7.3现场工具141

7.4综合软件141

7.5 自动测试比特位模型的产生（ATPG）143

7.6扫描插入软件143

7.7芯片内装自测试（BIST）发生器144

7.8静态定时分析软件145

7.10布局和布线软件147

7.9整体检验软件147

7.11编程工具149

7.12 小结151

练习153

第8章现在与未来155

本章目标155

8.1 内核155

8.2特殊的I/O驱动器159

8.3新型结构160

8.4具有嵌入式FPGA单元的ASIC161

8.5小结163

附录A答案164

第1章，历史回顾：可编程逻辑集成电路到专用集成电路ASIC164

第2章，复杂可编程逻辑器件（CPLD）165

第3章，现场可编程门阵列（FPGA）165

第4章，可编程器件的通用设计方法论（UDM-PD）167

第5章，设计技术、规则和指导方针168

第6章，检验170

第7章，电子设计自动化工具171

附录B第5章中备电路原理图的Verilog源程序代码192

术语表192

参考文献200