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第1章 逻辑代数基础1

1.1 模拟信号和数字信号2

1.1.1 模拟信号和数字信号2

1.1.2 模拟量的数字表示3

1.1.3 数字电路的特点和分类4

1.2 数制和码制5

1.2.1 数制5

1.2.2 码制11

1.3 逻辑代数的基本运算13

1.3.1 与运算（逻辑与）14

1.3.2 或运算（逻辑或）15

1.3.3 非运算（逻辑非）15

1.4 逻辑代数的基本定律及规则18

1.4.1 基本定律18

1.4.2 常用公式19

1.4.3 重要规则20

1.5 逻辑函数及其表示方法22

1.5.1 逻辑函数22

1.5.2 逻辑函数的表示方法23

1.5.3 逻辑函数的两种标准形式25

1.6 逻辑函数的化简28

1.6.1 逻辑函数的最简表达式28

1.6.2 逻辑函数的公式法化简29

1.6.3 逻辑函数的卡诺图化简法30

1.6.4 具有无关项的逻辑函数及其化简34

1.7 数字系统一般故障的检查和排除36

1.7.1 直观检查法36

1.7.2 测量电阻法36

1.7.3 静态测量37

1.7.4 动态测量37

小结37

关键术语38

自我测试题39

习题40

第2章 逻辑门电路44

2.1 基本逻辑门44

2.1.1 与门45

2.1.2 或门45

2.1.3 与门和或门实际应用46

2.1.4 非门47

2.2 复合逻辑门47

2.2.1 与非门48

2.2.2 或非门48

2.2.3 异或门49

2.2.4 同或门50

2.2.5 与或非门51

2.2.6 与非门和或非门实际应用52

2.3 特殊逻辑门52

2.3.1 三态逻辑门52

2.3.2 集电极开路逻辑门54

2.4 集成逻辑门55

2.4.1 数字集成电路分类55

2.4.2 TTL集成电路逻辑门56

2.4.3 CMOS集成电路逻辑门57

2.4.4 集成电路逻辑门的性能参数57

2.4.5 TTL与CMOS集成电路的接口60

2.4.6 集成电路使用常识61

2.5 故障诊断和排查62

2.5.1 与门和或门的故障排查技术62

2.5.2 与非门和或非门的故障排查技术64

小结65

关键术语66

自我测试题66

习题68

实验与实训70

第3章 组合逻辑电路73

3.1 组合逻辑电路的特点和分类74

3.1.1 组合逻辑电路的特点74

3.1.2 组合逻辑电路的功能表示方法75

3.1.3 组合逻辑电路的分类75

3.2 组合逻辑电路的分析和设计75

3.2.1 组合逻辑电路的分析75

3.2.2 组合逻辑电路的设计77

3.3 常用集成组合逻辑电路79

3.3.1 加法器79

3.3.2 数值比较器82

3.3.3 编码器85

3.3.4 译码器90

3.3.5 数据选择器和分配器98

3.4 组合逻辑电路中竞争冒险现象103

3.4.1 竞争冒险现象的产生原因103

3.4.2 竞争冒险现象的判断方法104

3.4.3 竞争冒险现象的消除方法104

3.5 故障诊断和排查105

3.5.1 电平恒定105

3.5.2 加法器的故障排查技术105

3.5.3 比较器的故障排查技术106

3.5.4 编码器的故障排查技术106

3.5.5 译码器的故障排查技术106

3.5.6 数据选择器的故障排查技术106

小结106

关键术语107

自我测试题108

习题109

实验与实训112

第4章 触发器116

4.1 基本触发器117

4.1.1 用与非门组成的基本触发器117

4.1.2 用或非门组成的基本触发器119

4.1.3 基本RS触发器的特点及应用121

4.2 同步触发器122

4.2.1 同步RS触发器122

4.2.2 同步D触发器124

4.2.3 同步RS触发器的空翻问题125

4.3 主从触发器125

4.3.1 主从RS触发器125

4.3.2 主从JK触发器127

4.4 边沿触发器128

4.4.1 边沿D触发器129

4.4.2 边沿JK触发器130

4.4.3 其他类型触发器131

4.5 故障诊断和排查134

4.5.1 基本RS触发器的故障排查技术134

4.5.2 边沿JK触发器的故障排查技术135

小结135

关键术语136

自我测试题136

习题137

实验与实训140

第5章 时序逻辑电路142

5.1 时序逻辑电路的特点和分类143

5.1.1 时序逻辑电路的特点143

5.1.2 时序逻辑电路功能表示方法143

5.1.3 时序逻辑电路分类144

5.2 时序逻辑电路的分析和设计145

5.2.1 时序逻辑电路的分析145

5.2.2 时序逻辑电路的设计149

5.3 计数器151

5.3.1 计数器的特点和分类151

5.3.2 二进制计数器152

5.3.3 十进制计数器157

5.3.4 N进制计数器161

5.4 寄存器165

5.4.1 寄存器的主要特点和分类165

5.4.2 基本寄存器166

5.4.3 移位寄存器167

5.4.4 移位寄存器型N进制计数器170

5.4.5 顺序脉冲发生器171

5.5 故障诊断和排查176

5.5.1 集成计数器故障排查技术176

5.5.2 级联的计数器故障排查技术176

5.5.3 触发器构成的计数器故障排查技术176

小结177

关键术语178

自我测试题178

习题180

实验与实训183

第6章 脉冲发生与整形电路186

6.1 脉冲信号基本参数186

6.2 集成定时器187

6.2.1 CC7555定时器187

6.2.2 脉冲产生整形电路189

6.3 多谐振荡器189

6.3.1 用555定时器构成的多谐振荡器189

6.3.2 石英晶体多谐振荡器191

6.3.3 多谐振荡器应用举例193

6.4 施密特触发器194

6.4.1 用555定时器构成的施密特触发器194

6.4.2 集成施密特触发器196

6.4.3 施密特触发器应用举例197

6.5 单稳态触发器198

6.5.1 用555定时器构成的单稳态触发器198

6.5.2 集成单稳态触发器200

6.5.3 单稳态触发器应用举例200

6.6 故障诊断和排查201

6.6.1 定时器的故障分析201

6.6.2 脉冲发生电路的故障分析202

小结202

关键术语202

自我测试题203

习题204

实验与实训206

第7章 数模和模数转换器208

7.1 数字系统的构成209

7.2 数模转换器209

7.2.1 数模转换器的工作原理209

7.2.2 权电阻数模转换器210

7.2.3 T型电阻网络数模转换器211

7.2.4 集成数模转换器212

7.2.5 数模转换器的主要参数214

7.3 模数转换器215

7.3.1 采样保持和量化编码215

7.3.2 双积分型模数转换器216

7.3.3 逐次渐近型模数转换器218

7.3.4 并联比较型模数转换器220

7.3.5 集成模数转换器221

7.3.6 模数转换器的主要参数223

小结223

关键术语224

自我测试题224

习题225

实验与实训226

第8章 半导体存储器和可编程逻辑器件228

8.1 半导体存储器229

8.1.1 基本概念229

8.1.2 半导体存储器分类229

8.2 只读存储器（ROM）230

8.2.1 只读存储器结构和分类230

8.2.2 只读存储器的应用233

8.3 随机存取存储器（RAM）233

8.3.1 随机存取存储器结构与分类234

8.3.2 存储器容量的扩展235

8.4 可编程逻辑器件（PLD）237

8.4.1 PLD器件的分类237

8.4.2 PLD电路的基本结构238

8.4.3 可编程组合逻辑器件239

8.4.4 PLD的设计流程241

总结242

关键术语243

自我测试题243

习题244

实验与实训245

附录 Multisim10简介248

参考文献256