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目录1

序言1

常用符号及对照表3

第一章　数字集成电路5

1.1 数字集成电路的逻辑门5

1.2半导体存储器16

1.3微处理器电路29

1.4 矩阵式LSI35

小结37

第二章集成电路的静态参数和动态参数及其测量方法37

2.1 概述39

2.2集成电路的静态参数41

2.3 集成电路的动态参数48

2.4 集成电路功能参数的检验61

小结64

3.1 概述66

第三章集成电路的功能检验66

3.2 功能检验的方法69

3.3 RAM算法功能测试的构成方法73

3.4 只读存储器的功能检验特点95

3.5 构成任意逻辑的数字集成电路的功能测试方法100

3.6 与代码标准相比较进行LSI的功能检验107

小结118

4.1组成和特性120

第四章 数字集成电路静态参数的检测设备120

4.2程控电压源和程控电流源123

4.3 电压和电流的测量变换器138

4.4 测量电源——电压和电流变换器144

4.5 转换器148

4.6联结设备150

4.7检测设备电磁兼容性的保证154

4.8确定技术特性的方法去158

小结163

5.1 集成电路测试仪的构成原理164

第五章集成电路动态参数的检测设备164

5.2 高速集成电路动态测量参数的误差169

5.3 集成电路测试仪测量传输通道中脉冲信号失真的分析174

5.4 集成电路输出信号的分析182

5.5 集成电路输出信号的失真分析186

5.6 集成电路测试仪的可控信号源189

5.7 采用取样变换法的集成电路测试仪的构成电路209

5.8检验系统215

小结220

第六章 集成电路的功能检验装置222

6.1按与标准相比较的方法构成的功能检验装置222

6.2采用信号算法生成的功能检验装置的构成226

6.3对LSI进行功能检验和参数检验的通用集成电路测试仪231

6.4 引出线电路单元242

6.5研究用的功能检验仪器256

小结258

7.1 检验系统程序保证的演进260

第七章检验系统的程序保证260

7.2低集成度集成电路的检验装置262

7.3 多工位集成电路测试仪的程序保证263

7.4带有计算机的检验系统的程序保证268

7.5 由具有磁盘操作系统的计算机控制的复杂检验275

系统的程序保证275

7.6有两级控制的分布式检验系统284

7.7 描述检验过程的语言290

小结304

第八章　生产中使用的集成电路检测系统306

8.1 概述306

8.2 生产中使用的多工位集成电路测试仪308

8.3 计算机在集成电路测试仪中的应用318

8.4 集成电路测试仪生产率的估算324

小结327

结束语329

参考文献336