图书介绍

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电子设备系统可靠性设计与试验技术指南
  • 卢昆祥等编著 著
  • 出版社: 天津:天津大学出版社
  • ISBN:9787561839447
  • 出版时间:2011
  • 标注页数:333页
  • 文件大小:17MB
  • 文件页数:343页
  • 主题词:电子设备-可靠性-设计-指南;电子设备-可靠性试验-指南

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图书目录

第1篇 可靠性工程与设备的可靠性指标第1章 可靠性工程介绍2

1.1 什么是可靠性工程2

1.2 可靠性工程包括的内容2

1.3 什么是电子设备的可靠性3

1.4 固有可靠性和使用可靠性5

1.5 可靠性增长6

1.6 可靠性设计的主要任务和基本原则7

第2章 可靠性的概率分布函数与可靠性的数量特征(指标)8

2.1 随机变量、分布函数、分布的参数8

2.2 可靠性常用的概率分布函数9

2.3 排列和组合16

2.4 规定产品可靠性数量特征(指标)的意义17

2.5 可靠性的主要数量特征(指标)及计算方法18

第2篇 设备系统的总体可靠性设计第3章 可靠性指标的论证与确定36

3.1 可靠性指标的论证36

3.2 确定设备系统可靠性指标的原则与方法38

第4章 可靠性结构模型与数学模型39

4.1 建立可靠性模型的条件与原则39

4.2 可靠性结构模型的建立41

4.3 可靠性结构模型与数学模型45

第5章 可靠性预计59

5.1 可靠性预计的作用59

5.2 可靠性预计的方法和程序60

5.3 详细的元器件应力分析预计法举例69

第6章 可靠性指标的分配73

6.1 可靠性指标分配的作用73

6.2 可靠性分配的基本原则和注意事项74

6.3 可靠性分配方法和程序75

第7章 系统的维修性和安全性设计88

7.1 系统的维修性设计88

7.2 安全性设计的要求和措施97

第8章 可靠性设计与人的关系101

8.1 引言101

8.2 设计与生产102

8.3 人的因素理论与人机工程102

8.4 人的因素与可靠性之间的关系104

8.5 人-机分配与可靠性104

8.6 人的差错率的研究与预测方法106

8.7 人-机工程设计的一般要求107

第3篇 保证设备系统可靠性的设计技术第9章 元器件工程与降额设计112

9.1 设备系统实施元器件工程的重要性与主要工作内容112

9.2 降额设计114

9.3 降额设计的原则125

9.4 元器件选用准则及在工程中的应用126

第10章 冗余设计134

10.1 概述134

10.2 冗余设计技术的分类及功能135

10.3 冗余设计技术介绍137

10.4 冗余系统的选择142

10.5 使用冗余系统应考虑的因素144

第11章 环境影响及耐环境设计147

11.1 环境条件对设备可靠性的影响147

11.2 热设计技术151

11.3 防冲击和振动设计161

第12章 电磁兼容设计168

12.1 电磁兼容概述168

12.2 电磁干扰源及干扰引入方式169

12.3 电磁兼容设计的一般要求176

12.4 抑制电磁干扰的一些方法177

12.5 电磁兼容性设计技术177

第13章 其他可靠性设计技术178

13.1 简化电路设计及减少元器件品种和数量178

13.2 集成化设计178

13.3 采用成熟的新技术179

第14章 可靠性分析技术181

14.1 失效模式、影响及危害度分析181

14.2 失效树分析法191

第15章 可靠性设计评审199

15.1 设计评审的作用和目的199

15.2 设计评审的准备及评审的内容范围199

15.3 设计评审的组织及成员职责204

15.4 设计评审的程序与结论204

第4篇 设备系统的可靠性试验第16章 可靠性试验的基础知识210

16.1 影响产品可靠性的因素210

16.2 可靠性试验的定义与原理211

16.3 可靠性试验的种类及其目的213

16.4 正确评定设备的可靠性215

第17章 统计试验方案218

17.1 试验参数的定义218

17.2 怎样正确选择试验参数219

17.3 试验方案的种类及选择试验方案的原则221

17.4 标准型试验方案及其判决标准223

17.5 试验样品数量和试验时间的确定234

17.6 恒定失效率有效性检验236

17.7 用试验观察数据估计设备的平均无故障工作时间(MTBF)239

第18章 可靠性试验的一般要求248

18.1 试验类型的选择248

18.2 可靠性试验的设计248

18.3 可靠性鉴定试验前应具备的条件249

18.4 试验样品的要求252

18.5 试验设备、仪器仪表的要求253

18.6 试验实施的要求254

18.7 受试设备的检测要求254

18.8 受试设备接收与否的判决255

18.9 纠正措施256

18.10 预防性维护256

18.11 受试设备的复原257

18.12 对可靠性试验的检查与监督258

第19章 试验条件选择及试验周期设计259

19.1 设备的分类259

19.2 试验条件的分类260

19.3 试验条件的选择266

19.4 对基本环境试验方法的要求272

19.5 试验中的工作条件272

19.6 试验周期(循环)与试验程序的设计274

19.7 推荐的试验周期275

19.8 编制可靠性试验程序的实例与说明277

第20章 失效的分类、分析与处理289

20.1 失效的定义与分类289

20.2 失效时间的判定291

20.3 失效的处理方法292

20.4 失效的分析方法与要求292

20.5 失效的检测方法与要求293

20.6 失效的最后分类与相关失效数的确定294

20.7 制定纠正措施方案298

第21章 试验的记录与报告299

21.1 可靠性试验报告299

21.2 可靠性试验测试记录300

21.3 可靠性试验失效综合报告表301

21.4 可靠性试验分析与修理报告表302

第22章 现场可靠性试验304

22.1 试验的目的304

22.2 试验的一般要求305

22.3 试验条件305

22.4 受试设备性能和相关试验时间306

22.5 数据收集306

22.6 正确评定与比较现场可靠性试验与试验室模拟可靠性试验数据306

第23章 可靠性试验技术与管理308

23.1 可靠性试验技术308

23.2 关于大中型电子设备的可靠性评定309

23.3 可靠性试验的管理310

第24章 可靠性增长试验方法313

24.1 概述313

24.2 术语314

24.3 一般要求314

24.4 详细要求317

24.5 杜安可靠性增长模型的说明和MTBF移动平均值法的探讨321

24.6 AMSAA模型增长分析326

参考文献333

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