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第一章 晶体几何学1

1-1 晶体结构和点阵结构1

前言页1

1-2 点阵、点阵结构3

1-3 晶体的对称性7

1-4 点阵方向和点阵平面11

1-5 晶体结构15

1-6 倒易点阵18

1-7极射赤面投影24

2-1 X射线的本性33

第二章 X射线的产生及其本质33

2-2 X射线的产生35

2-3 X射线的探测38

2-4 X射线谱39

2-5 X射线与物质的相互作用45

2-6 X射线的防护55

第三章 X射线衍射的基本原理56

3-1 一个晶胞对X射线的散射56

3-2 一个单晶体的衍射，劳厄(Laue,M.Von)方程57

3-3 布拉格(Bragg. W.H.)方程60

3-4 厄瓦尔德(Ewald.P.P.)作图法63

3-5 结构因数64

3-6 非理想条件下的衍射、线宽、倒易点的形状68

3-7 衍射方法71

第四章 衍射线的强度75

4-1 积累强度75

4-2 角因数77

4-3 多重性因数80

4-4 吸收因数81

4-5 温度因数83

4-6 计算粉末试样积累强度举例85

4-7 衍射线积累强度的测量方法87

第五章 X射线衍射仪89

5-1 X射线探测器89

5-2 测量装置的电气线路部分93

5-3 测角仪95

5-4 衍射线强度的测量与计算97

5-5 衍射谱的标定99

5-6 X射线单色器109

6-1 德拜法成像原理111

第六章 X射线粉末照像法111

6-2 德拜法照像技术112

6-3 德拜相的标定115

6-4 聚焦照像机和针孔照像机117

第七章 点阵参数的精密测量及期应用120

7-1 影响点阵参数测量精度的因素120

7-1 实验数据的处理123

7-3 X射线衍射在测定晶体结构中的一些应用129

8-1 物相的定性分析135

第八章 合金相分析135

8-2 物相的定量分析140

第九章 晶料大小的测量146

9-1 粗晶粒(10-2mm以上)的测定146

9-2 细晶粒(10-4mm以下)的测定147

第十章 应力的测量151

10-1 应力测量的基本原理151

10-2 平面宏观应力的测量153

10-3 微观应力的测量157

11-1 劳厄法成像161

第十一章 单晶体的X射线衍射161

11-2 劳厄相与极射赤面投影165

11-3 晶体位向的测定168

11-4 晶体间相互位向的测定172

第十二章 织构和极图176

12-1 极图176

12-2 织构的测定177

12-3 反极图186

附录一 元素的晶体学特性表188

附录188

附录二 元素的原子量和密度数据表190

附录三 立方晶系晶面间夹角数据表191

附录四 元素的特征波长和吸收限数据表198

附录五 元素的质量收系数μm数据表200

附录六 原子的散射因数f数据表202

附录七 sinθ/λ数据表204

附录八 角因数(1+cos22θ)/(sin2θcosθ)数据表206

附录九 某些元素的德拜特征温度208

附录十 德拜函数φ(χ)的数据表208

附录十一 温度因数中的f(χ)×10-4数值表208