图书介绍
分析晶体缺陷的电子显微术2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

- (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著;康振川,王桂金译 著
- 出版社: 上海:上海科学技术出版社
- ISBN:15119·2028
- 出版时间:1979
- 标注页数:111页
- 文件大小:13MB
- 文件页数:115页
- 主题词:
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